发明名称 |
通过喷射沉积与近熔点压制致密化制备高硅铝合金电子封装材料的方法 |
摘要 |
本发明设计一种通过喷射沉积与近熔点压制致密化制备高硅铝合金电子封装材料的方法,其主要步骤为:先将硅铝材料按比例配料,其中硅原料的质量百分比为30%~50%,其余为工业纯铝;将混合后的材料放入中频感应炉内加热、搅拌,并进行覆盖造渣与除气处理,采用喷射沉积将金属熔液制成坯体;对坯体进行预处理;对预处理后的合金材料进行近熔点压制致密化处理,脱模水冷后即得到性能优异的高硅铝合金电子封装材料。本发明突出采用通过喷射沉积与近熔点压制致密化方法制备高硅铝合金,工艺简单、设备要求较低、能耗小,所制得合金材料力学性能、热膨胀系数、热导率、气密性都达到了电子封装材料的使用要求,综合性能优异,完全适用于现代电子封装领域。 |
申请公布号 |
CN105986132A |
申请公布日期 |
2016.10.05 |
申请号 |
CN201510048227.8 |
申请日期 |
2015.01.30 |
申请人 |
中南大学 |
发明人 |
王日初;邓宏贵;刘继嘉 |
分类号 |
C22C1/00(2006.01)I;C22C21/02(2006.01)I |
主分类号 |
C22C1/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种通过喷射沉积与近熔点压制致密化制备高硅铝合金电子封装材料的方法,包括以下步骤:1)将硅铝材料按比例配料;2)将上述材料在中频感应炉内熔炼,喷射沉积得到高硅铝合金坯体;3)将坯体进行初加工。4)将坯体进行近熔点压制致密化处理,得到性能优异的高硅铝合金电子封装材料。 |
地址 |
410083 湖南省长沙市岳麓区岳麓山154号 |