Rastersondenmikroskop sowie Verfahren zur Messung lokaler elektrischer Potentialfelder

摘要

Die Erfindung betrifft ein Rastersondenmikroskop sowie ein Verfahren zur Messung lokaler elektrischer Potentialfelder. Erfindungsgemäß wird ein Rastersondenmikroskop zur Verfügung gestellt, an dessen Spitze ein Quantenpunkt angebracht ist. Diese ermöglicht eine Erhöhung der Auflösung und Empfindlichkeit bei der Messung elektrischer Potentialfelder. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die angelegte Spannung bestimmt, bei der eine Ladungsänderung des Quantenpunktes auftritt. Die Auflösung ist erfindungsgemäß nicht mehr abhängig vom Abstand der Spitze von der zu untersuchenden Probe sowie vom Radius der Spitze.