发明名称 METHOD FOR FORMING GAPFILL TEST PATTERN FOR ISOLATION OF FLASH MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 KR20070046444(A) 申请公布日期 2007.05.03
申请号 KR20050103167 申请日期 2005.10.31
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 JEONG, JIN HEE
分类号 H01L27/115 主分类号 H01L27/115
代理机构 代理人
主权项
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