发明名称 用于制备具有大晶粒的再结晶硅衬底的方法
摘要 本发明涉及一种用于制备平均晶粒尺寸大于或等于20μm的硅衬底的方法,至少包括以下步骤:(i)提供多晶硅衬底,所述多晶硅衬底的平均颗粒尺寸小于或等于10μm;(ii)使所述衬底在至少1000℃的温度下经受整体均匀的塑性变形;(iii)使所述衬底经受被定位在多个被称为外部应力区的衬底区(3)中的塑性变形,在两个连续的区(3)之间的间距为至少20μm,衬底的局部变形严格地大于在步骤(ii)中执行的整体变形,步骤(iii)能够与步骤(ii)相继地或者同时地执行;以及(iv)在严格高于步骤(ii)中使用的温度的温度下,使在步骤(iii)中获得的衬底经受固相再结晶热处理,以便获得期望的所述衬底。
申请公布号 CN105723525A 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201480053567.3 申请日期 2014.09.24
申请人 原子能与替代能源委员会 发明人 让-马里·勒布伦;让-保罗·加朗代;让-米歇尔·米西安;赛琳·帕斯卡
分类号 H01L31/18(2006.01)I;C30B1/02(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人 黄志华;何月华
主权项 一种用于制备平均晶粒尺寸大于或等于20μm的硅衬底(10)的方法,所述方法至少包括以下步骤:(i)提供多晶硅衬底(1),所述多晶硅衬底(1)的平均颗粒尺寸小于或等于10μm;(ii)使所述衬底在至少1000℃的温度下经受整体且均匀的塑性变形;(iii)使所述衬底经受被定位在多个被称为外部应力区的衬底区(3)中的塑性变形,在两个连续的区(3)之间的间距(e)为至少20μm,所述衬底的局部变形严格地大于在步骤(ii)中执行的整体变形,步骤(iii)能够与步骤(ii)相继地或者同时地执行;以及(iv)在严格高于在步骤(ii)中实施的温度的温度下,使在步骤(iii)结束时获得的所述衬底经受固相再结晶热处理,以便获得期望的所述衬底(10)。
地址 法国巴黎