44线陶瓷小外形封装集成电路老化测试插座

摘要

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对44线陶瓷小外形封装集成电路元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按照44线陶瓷小外形封装集成电路元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件。插座体由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于被试器件的定位安装，同时插座体可起扣紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，使盖产生位移，从而使被试器件压紧接触件；接触件由铍青铜材料冲压成型，并采用中心对称、与被试器件引出线相对应的方式、纵向排列形式组成。通电后进行高温老化试验和性能测试，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、使用方便、表面耐磨和零插拔力的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。

主权项

1. 一种适用于44线陶瓷小外形封装集成电路老化测试插座，其特征是：它是由插座体和接触件两个部分统一组成，插座体由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于被试器件的定位安装，同时插座体还起着扣紧装置的作用，接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。