发明名称 存储单元阵列及其制法
摘要 在存储单元阵列内提供第1和第2导线,在其交叉处安排具有磁致电阻效应的存储元。提供一磁轭,分别包围导线之一并包含具有导磁率至少为10的可磁化材料。该磁轭是如此安排的,使得通过磁轭磁通基本上经存储元闭合。
申请公布号 CN1312943A 申请公布日期 2001.09.12
申请号 CN99809580.X 申请日期 1999.08.02
申请人 因芬尼昂技术股份公司 发明人 S·施瓦茨尔
分类号 G11C11/16 主分类号 G11C11/16
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 马铁良;张志醒
主权项 1、存储单元阵列,其特征为:-其中,提供至少一条第1导线(L1),一条第2导线(L2),和一条具有磁致电阻效应的存储元(SE),-其中,存储元安排在第1导线(L1)和第2导线(L2)之间的交叉处,-其中,安排一磁轭(J),它局部包围导线(L2)之一,并包含具有相对导磁率至少为10的可磁化材料,-其中,如此安排一磁轭(J),使得通过磁轭的磁通经存储元(SE)基本闭合。
地址 德国慕尼黑