发明名称 用于测试电子器件的方法和装置
摘要 一种用于测试诸如集成电路之类的电子器件的装置。在一个实施例中,公开了一种用于测试电子器件的装置,其包括例如测试接触器外壳(310)的外壳,所述外壳具有延伸穿过该外壳的多个测试接触器管脚。所述多个测试接触器管脚包括第一组电源管脚(350)、第二组接地管脚(340)和第三组信号管脚。接合到所述外壳的印刷电路板具有第一接地面和第一电源面。电源管脚(350)电耦合到第一电源面(360),接地管脚(340)电耦合到第一接地面(370)。第一组电源管脚(350)、第二组接地管脚(340)和第三组信号管脚延伸穿过印刷电路板。
申请公布号 CN1630820A 申请公布日期 2005.06.22
申请号 CN03803713.0 申请日期 2003.02.07
申请人 英特尔公司 发明人 塔克·伍一·丰;陈国航;舒·奥恩·利姆
分类号 G01R1/04 主分类号 G01R1/04
代理机构 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人 柳春雷
主权项 1.一种装置,包括:外壳,所述外壳具有延伸穿过所述外壳的多个测试接触器管脚,所述多个测试接触器管脚包括一组电源管脚、一组接地管脚和一组信号管脚;被接合到所述外壳并具有第一接地面和第一电源面的印刷电路板;其中,所述一组电源管脚电耦合到所述第一电源面,所述一组接地管脚电耦合到所述第一接地面,其中所述一组电源管脚、所述一组接地管脚和所述一组信号管脚延伸穿过所述印刷电路板。
地址 美国加利福尼亚州