发明名称 | 用于测试电子器件的方法和装置 | ||
摘要 | 一种用于测试诸如集成电路之类的电子器件的装置。在一个实施例中,公开了一种用于测试电子器件的装置,其包括例如测试接触器外壳(310)的外壳,所述外壳具有延伸穿过该外壳的多个测试接触器管脚。所述多个测试接触器管脚包括第一组电源管脚(350)、第二组接地管脚(340)和第三组信号管脚。接合到所述外壳的印刷电路板具有第一接地面和第一电源面。电源管脚(350)电耦合到第一电源面(360),接地管脚(340)电耦合到第一接地面(370)。第一组电源管脚(350)、第二组接地管脚(340)和第三组信号管脚延伸穿过印刷电路板。 | ||
申请公布号 | CN1630820A | 申请公布日期 | 2005.06.22 |
申请号 | CN03803713.0 | 申请日期 | 2003.02.07 |
申请人 | 英特尔公司 | 发明人 | 塔克·伍一·丰;陈国航;舒·奥恩·利姆 |
分类号 | G01R1/04 | 主分类号 | G01R1/04 |
代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 柳春雷 |
主权项 | 1.一种装置,包括:外壳,所述外壳具有延伸穿过所述外壳的多个测试接触器管脚,所述多个测试接触器管脚包括一组电源管脚、一组接地管脚和一组信号管脚;被接合到所述外壳并具有第一接地面和第一电源面的印刷电路板;其中,所述一组电源管脚电耦合到所述第一电源面,所述一组接地管脚电耦合到所述第一接地面,其中所述一组电源管脚、所述一组接地管脚和所述一组信号管脚延伸穿过所述印刷电路板。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |