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经营范围
发明名称
Charged particle beamlet exposure system
摘要
申请公布号
EP1830384(A3)
申请公布日期
2007.09.19
申请号
EP20070075242
申请日期
2004.05.27
申请人
MAPPER LITHOGRAPHY IP B.V.
发明人
WIELAND, MARCO JAN-JACO;KRUIT, PIETER
分类号
H01J37/30;H01J37/08;H01J37/317
主分类号
H01J37/30
代理机构
代理人
主权项
地址
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