发明名称 |
半导体装置及其制造方法 |
摘要 |
本发明涉及半导体装置。该半导体装置具备:半导体层,其具有上表面和侧面的呈台地状的台面结构、以及在台面结构的周围扩展的周围面;肖特基电极,其与上表面肖特基接合;绝缘膜,其从周围面通过侧面遍及肖特基电极上而形成,在肖特基电极上具有开口部;布线电极,其在开口部的内侧与肖特基电极电连接,从开口部的内侧通过绝缘膜的部位中的形成于侧面的部位上,遍及绝缘膜的部位中的形成于周围面的部分上形成。 |
申请公布号 |
CN105932052A |
申请公布日期 |
2016.09.07 |
申请号 |
CN201610104130.9 |
申请日期 |
2016.02.25 |
申请人 |
丰田合成株式会社 |
发明人 |
长谷川一也;冈彻;田中成明 |
分类号 |
H01L29/47(2006.01)I;H01L21/283(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/47(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
舒艳君;李洋 |
主权项 |
一种半导体装置,其特征在于,具备:半导体层,其具有台面结构以及在所述台面结构的周围扩展的周围面,所述台面结构具有上表面和侧面且呈台地状;肖特基电极,其与所述上表面形成肖特基接合;绝缘膜,其从所述周围面经过所述侧面遍及在所述肖特基电极上而形成,在所述肖特基电极上具有开口部;布线电极,其在所述开口部的内侧与所述肖特基电极电连接,从所述开口部的内侧经过所述绝缘膜的部位中的形成于所述侧面的部位上,遍及在所述绝缘膜的部位中的形成于所述周围面的部分上而形成。 |
地址 |
日本爱知县 |