发明名称 鉛フリーはんだ合金、電子回路基板および電子制御装置
摘要 【課題】寒暖の差が激しく、振動が負荷されるような過酷な環境下においてもはんだ接合部の亀裂進展を抑制でき、且つNi/Pd/AuめっきやNi/Auめっきがなされていない電子部品を用いてはんだ接合をした場合においても電子部品とはんだ接合部の界面付近における亀裂進展を抑制することのできる鉛フリーはんだ合金、並びに当該鉛フリーはんだ合金を用いて形成されるはんだ接合部を有する電子回路基板および電子制御装置の提供。【解決手段】Agを1重量%以上3.1重量%以下と、Cuを1重量%以下と、Sbを1重量%以上5重量%以下と、Biを0.5重量%以上4.5重量%以下と、Niを0.01重量%以上0.25重量%以下含み、残部がSnからなる鉛フリーはんだ合金。【選択図】図1
申请公布号 JP6047254(B1) 申请公布日期 2016.12.21
申请号 JP20160057712 申请日期 2016.03.22
申请人 株式会社タムラ製作所 发明人 新井 正也;中野 健;堀 敦史;勝山 司;宗川 裕里加
分类号 B23K35/26;C22C13/00;C22C13/02;H05K3/34 主分类号 B23K35/26
代理机构 代理人
主权项
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