发明名称 Verfahren zum Abschätzen einer Temperatur eines Transistors
摘要 Ein Detektor misst die Ausschaltspannungsänderung in Bezug auf Veränderung über die Zeit zwischen einem Kollektor und einem Emitter eines Transistors und die Spitzenspannung des Transistors am Kollektor. Eine elektronische Datenverarbeitungsvorrichtung bestimmt Zwischenparameter des Ausschaltstromes, des Einschaltstromes und des Durchlassspannungsabfalls auf der Grundlage der Ausschaltspannungsänderung und der Spitzenspannung. Die Datenverarbeitungsvorrichtung bestimmt den Leistungs- oder Energieverlust für einen Schaltzyklus des Transistors auf der Grundlage des Ausschaltstromes, des Einschaltstromes und des Durchlassspannungsabfalls zwischen dem Kollektor und dem Emitter des Transistors. Die Datenverarbeitungsvorrichtung schätzt eine zugehörige mittlere Chiptemperatur für den Transistor über den Schaltzyklus ab.
申请公布号 DE102016201004(A1) 申请公布日期 2016.09.01
申请号 DE201610201004 申请日期 2016.01.25
申请人 Deere & Company 发明人 Singh, Brij N
分类号 G01K7/01;H02M1/00;H02M1/08;H02M7/5387 主分类号 G01K7/01
代理机构 代理人
主权项
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