发明名称 |
MEMS-Bauelement mit hoher Integrationsdichte |
摘要 |
Es wird ein MEMS-Bauelement mit erhöhter Integrationsdichte und ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Bauelements angegeben. Das Bauelement umfasst einen Basiswafer und einen darüber angeordneten Deckelwafer. Zwischen dem Basiswafer und dem Deckelwafer ist ein erster Hohlraum angeordnet. Über dem Deckelwafer ist ein zweiter Hohlraum unter einer Dünnschicht-Abdeckung angeordnet. Die Hohlräume enthalten Bauelementstrukturen. |
申请公布号 |
DE102015102869(A1) |
申请公布日期 |
2016.09.01 |
申请号 |
DE201510102869 |
申请日期 |
2015.02.27 |
申请人 |
EPCOS AG |
发明人 |
Metzger, Thomas;Portmann, Jürgen |
分类号 |
B81B7/02;B81C1/00;H01L21/50 |
主分类号 |
B81B7/02 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|