发明名称 改良されたイオン移動度分光計
摘要 イオン移動度分離によるイオン分析方法が開示される。本方法は、イオントラップ(3)内の電荷量を制御し、次にイオントラップ(3)からのイオンをパルス化してイオン移動度分離装置(5)内に入れることを含む。これは、イオン移動度分離装置(5)内に注入される電荷を制御することを可能にし、ゆえにイオン間の空間電荷相互作用が、検出器(7)により検出されるイオン移動度ピークを歪ませるのを防止する。【選択図】図1
申请公布号 JP2016522401(A) 申请公布日期 2016.07.28
申请号 JP20160509541 申请日期 2014.04.17
申请人 マイクロマス ユーケー リミテッド 发明人 ケビン・ジャイルス;マーティン・レイモンド・グリーン;ジョン・ブライアン・ホイエス;スティーブン・デレク・プリングル;ジェイソン・リー・ワイルドグース
分类号 G01N27/62 主分类号 G01N27/62
代理机构 代理人
主权项
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