发明名称 |
相位分布及相位校正方法和装置以及磁共振成像方法和装置 |
摘要 |
为了即使存在局部干扰时也能计算精确的相位图并执行这种相位校正,对通过磁共振成像得到的图像进行低通滤波(702),检测其滤波后的值与滤波前的值的比值不超过预定比值的像素位置(704),计算除这些点的像素数据外的相位分布,从邻近像素位置的相位来估计所述被排除点的相位而提供补偿,以便使相位图完整。 |
申请公布号 |
CN1327239C |
申请公布日期 |
2007.07.18 |
申请号 |
CN00131879.9 |
申请日期 |
2000.10.23 |
申请人 |
GE医疗系统环球技术有限公司 |
发明人 |
三好光晴 |
分类号 |
G01R33/565(2006.01);G01R33/20(2006.01) |
主分类号 |
G01R33/565(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
吴增勇;张志醒 |
主权项 |
1.一种相位校正方法,它包括如下步骤:对通过磁共振成像得到的图像进行低通滤波;检测一个范围内的像素位置,该范围的一端由值“e”确定而另一端由值“E”确定,其中((滤波后信号强度)/(滤波前信号强度))≤e或(滤波前信号强度)/(滤波后信号强度)≥E从而提供一个范围内的所检测像素位置;排除所述范围内的所检测像素位置中的像素数据,根据所述低通滤波前的图像或所述低通滤波后的图像来计算相位分布,从而提供所计算的相位分布,通过从相邻像素位置的相位来估计所述计算的相位分布中所述被排除的范围内的所检测像素位置的相位来获得补偿相位分布;以及利用所述补偿相位分布来执行所述图像的相位校正。 |
地址 |
美国威斯康星州 |