| 发明名称 | 厚度和电导率的电磁测量方法与装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于通过使用电磁感应来非接触确定待测物体(2)的探寻属性例如其几何尺寸或其电导率的方法，其中在发射器线圈(3)中产生电磁场，该发射器线圈(3)布置在待测物体(2)的一侧上，并且其中通过布置在待测物体(2)另一侧上的接收器线圈(4)检测穿过待测物体(2)的磁场。本发明包括：在发射器线圈(3)附近布置控制线圈(5)，在发射器线圈(3)的磁场中产生变化，检测控制线圈(5)中的场变化，检测接收器线圈(4)中的场，确定分别用于检测控制线圈(5)和接收器线圈(4)中场变化的时间之差，确定穿过待测物体(2)的穿透时间(T2)，和由此确定待测物体(2)的厚度或电导率。 | ||
| 申请公布号 | CN100449253C | 申请公布日期 | 2009.01.07 |
| 申请号 | CN200480039318.5 | 申请日期 | 2004.12.22 |
| 申请人 | ABB股份有限公司 | 发明人 | S·林德 |
| 分类号 | G01B7/02(2006.01);G01N27/72(2006.01);G01R27/00(2006.01) | 主分类号 | G01B7/02(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 龚海军;刘杰 |
| 主权项 | 1、一种用于通过使用电磁感应而非接触确定待测物体(2)的厚度或电导率的方法，并且其中在发射器线圈(3)中产生电磁场，该发射器线圈(3)布置在待测物体(2)的一侧上，并且其中通过布置在待测物体(2)另一侧上的接收器线圈(4)检测穿过待测物体(2)的磁场，其特征在于：-在发射器线圈(3)附近布置控制线圈(5)，-在发射器线圈(3)的磁场中产生变化，-检测控制线圈(5)中的场变化，-检测接收器线圈(4)中的场变化，-确定分别用于检测控制线圈(5)和接收器线圈(4)中场变化的时间之差，-确定穿过待测物体(2)的穿透时间T2，-检测在接收器线圈(4)中感应的最大电压S4max，和-根据穿透时间T2和最大电压S4max来确定待测物体(2)的厚度或电导率。 | ||
| 地址 | 瑞典韦斯特罗斯 | ||