发明名称 照明系统、包含该照明系统的自动光学检测装置及其方法
摘要 本发明公开一种照明系统、包含其的自动光学检测装置及其方法。该照明系统包含斜射照明单元和同轴落射照明单元,其分别在受检电路板上形成斜射照明区域和落射照明区域,而所述照明区域均覆盖该受检电路板受检区域。该自动光学检测装置还包括一垂设于照明系统上方的相机。该方法包括S<sub>1</sub>、启动该同轴落射照明单元,该相机获取该受检电路板的第一张图像;S<sub>2</sub>、关闭该同轴落射照明单元;S<sub>3</sub>、启动该斜射照明单元,该相机获取该受检电路板的第二张图像。S<sub>4</sub>、关闭该斜射照明单元。本发明可真实还原受检电路板的真实色彩,有效地区分红铜色铜箔焊盘上的薄形焊锡覆盖的焊盘和具有露铜缺陷的焊盘。同轴落射照明单元增强了对贴装元件焊接处的外观缺陷检测能力。
申请公布号 CN102679236B 申请公布日期 2016.08.24
申请号 CN201110062733.4 申请日期 2011.03.15
申请人 上海赫立电子科技有限公司 发明人 程克林
分类号 F21S8/00(2006.01)I;F21V19/00(2006.01)I;F21V5/04(2006.01)I;F21V17/00(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I;F21Y115/10(2016.01)N 主分类号 F21S8/00(2006.01)I
代理机构 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人 薛琦;朱水平
主权项 一种照明系统,其包含一斜射照明单元,该斜射照明单元包括若干第一发光元件,该斜射照明单元发射的光束在受检电路板上形成一斜射照明区域,其特征在于,该照明系统还包括一位于该斜射照明单元上方的同轴落射照明单元,该同轴落射照明单元发射的光束在受检电路板上形成一落射照明区域,所述斜射照明区域和落射照明区域均覆盖该受检电路板的受检区域,所述落射照明区域为四边形,该同轴落射照明单元包括一半反半透镜以及若干位于该半反半透镜对面的第二发光元件;所述第二发光元件在与该受检电路板竖直的平面内成矩阵形式分布;所述第二发光元件所发射的光束经该半反半透镜反射后垂直投射至该受检电路板上,该半反半透镜相对该受检电路板所在平面的安装角度为45°,所述第一发光元件和所述第二发光元件所发射的光束均为白光。
地址 200333 上海市同普路1175弄长征工业园16号厂房201-206