发明名称 |
基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置及检测方法 |
摘要 |
一种基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置,特点在于该装置由双波长光源、聚焦透镜、滤光小孔、分光镜、准直透镜、成像透镜、第一图像传感器、第二图像传感器、第一位置调整机构和第二位置调整机构组成,本发明装置和方法具有结构简单、计算方便和不需要标准镜等优点。 |
申请公布号 |
CN103994734B |
申请公布日期 |
2016.08.24 |
申请号 |
CN201410219304.7 |
申请日期 |
2014.05.22 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
发明人 |
王莹;曾爱军;张运波;黄惠杰 |
分类号 |
G01B11/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/26(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
张泽纯 |
主权项 |
一种基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置,特征在于该装置由双波长光源(1)、聚焦透镜(2)、滤光小孔(3)、分光镜(5)、准直透镜(6)、成像透镜(9)、第一图像传感器(4)、第二图像传感器(10)、第一位置调整机构(8)和第二位置调整机构(11)组成,其位置关系是:沿双波长光源(1)出射光束方向依次是所述的聚焦透镜(2)、滤光小孔(3)、分光镜(5)、准直透镜(6)、成像透镜(9)和第二图像传感器(10);第一图像传感器(4)位于所述的准直透镜(6)的前焦面,且第一图像传感器(4)的中心与所述的准直透镜(6)的中心共轴;所述的分光镜(5)位于第一图像传感器(4)与准直透镜(6)之间;所述的滤光小孔(3)与第一图像传感器(4)相对于所述的分光镜(5)共轭;第二图像传感器(10)位于所述的成像透镜(9)的后焦面,且第二图像传感器(10)的中心与成像透镜(9)中心共轴;所述的聚焦透镜(2)、准直透镜(6)、成像透镜(9)均为消色差透镜,在所述的准直透镜(6)和成像透镜(9)之间预留有待测轴锥镜(7)位置并置于所述的第一位置调整机构(8)上,所述的成像透镜(9)和第二图像传感器(10)置于所述的第二位置调整机构(11)上。 |
地址 |
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