| 发明名称 | 测量系统、测量方法、测量机以及测量用反射目标 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种测量系统、测量方法、测量机以及测量用反射目标，其设成能够确定希望反射目标。实施方式具备棱镜(4)，以及向棱镜(4)出射测距光、基于来自棱镜(4)的反射测距光、进行测距的全站仪(3)。棱镜(4)具备固有的辩识信息(6)，全站仪(3)设定成能够对设定辩识信息(6)进行设定，并且读入棱镜(4)的固有的辩识信息(6)，将该固有的辩识信息(6)与设定辩识信息(6)进行对照。 | ||
| 申请公布号 | CN105823460A | 申请公布日期 | 2016.08.03 |
| 申请号 | CN201510770372.7 | 申请日期 | 2015.11.12 |
| 申请人 | 株式会社拓普康 | 发明人 | 熊谷薫;西田信幸;河内纯平 |
| 分类号 | G01C3/00(2006.01)I;G01C3/02(2006.01)I | 主分类号 | G01C3/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 高迪 |
| 主权项 | 一种测量系统，具备反射目标、以及向该反射目标出射测距光并基于来自该反射目标的反射测距光进行测距的测量机，其特征在于，上述反射目标具备固有的辩识信息，上述测量机具备：操作输入机构，能够对设定辩识信息进行设定；第1探索机构，探索反射目标；第2探索机构，在上述第1探索机构检测出反射目标时，在该反射目标的附近，探索该反射目标具备的固有的辩识信息；辩识信息检测机构，从上述第2探索机构的探索信息中检测该反射目标的固有的辩识信息；以及对照机构，将上述辩识信息检测机构检测出的辩识信息与由上述操作输入机构设定的设定辩识信息进行对照。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||