| 发明名称 | 检查物体的方法和设备 | ||
| 摘要 | 一种检查物体(12)的方法，包括：从光源(22)发射光(40)，将从光源发射的光投影到物体的表面，将从物体表面反射的光分离为第一图像和第二图像，利用成像传感器接收第一图像和第二图像，并且分析由成像传感器(24)接收的第一和第二图像，以便对物体的至少一部分进行检查。 | ||
| 申请公布号 | CN1955635A | 申请公布日期 | 2007.05.02 |
| 申请号 | CN200610160509.8 | 申请日期 | 2006.10.24 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | K·G·哈丁 |
| 分类号 | G01B11/00(2006.01);G01B11/02(2006.01);G01B11/24(2006.01);G01N21/00(2006.01);G01N21/88(2006.01) | 主分类号 | G01B11/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 李亚非;陈景峻 |
| 主权项 | 1、一种检查物体(12)的方法，所述方法包括：从光源(22)发射光(40)；将从光源发射的光投影到物体的表面；将从物体表面反射的光分离为第一图像和第二图像；利用成像传感器(24)接收第一图像和第二图像；并且分析由成像传感器接收的第一和第二图像，以便对物体的至少一部分进行检查。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||