发明名称 COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING CONDUCTIVE PATTERN AND RESIN STRUCTURE HAVING CONDUCTIVE PATTERN THEREON
摘要 본 발명은 고분자 수지 제품 또는 수지층 상에, 그 기계적 물성 저하를 줄이면서, 우수한 접착력을 갖는 미세 도전성 패턴을 형성할 수 있게 하는 도전성 패턴 형성용 조성물, 이를 사용한 도전성 패턴 형성 방법과, 도전성 패턴을 갖는 수지 구조체에 관한 것이다. 상기 도전성 패턴 형성용 조성물은 폴리카보네이트계 수지; 및 제 1 금속 및 제 2 금속을 포함하고 스피넬 구조를 갖는 비도전성 금속 화합물의 입자로서, 0.1 내지 6 ㎛의 입경을 갖는 입자를 포함하고, 전자기파 조사에 의해, 상기 비도전성 금속 화합물 입자로부터, 상기 제 1 또는 제 2 금속이나 그 이온을 포함하는 금속핵이 형성되는 것이다.
申请公布号 KR101658173(B1) 申请公布日期 2016.09.20
申请号 KR20150053975 申请日期 2015.04.16
申请人 주식회사 엘지화학 发明人 전신희;김재현;박철희;박치성;김재진;정한나;성은규;이수정
分类号 H01B1/22;C08L69/00;H01B13/00 主分类号 H01B1/22
代理机构 代理人
主权项
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