发明名称 Method Of Forming Semiconductor Device
摘要 반도체 기판 상에 제 1 절연층을 형성하고, 상기 제 1 절연층 상에 제 1 다결정 실리콘 층을 형성하고, 상기 제 1 다결정 실리콘 층 상에 제 2 절연층을 형성하고, 상기 제 2 절연층 상에 제 2 다결정 실리콘 층을 형성하고, 상기 제 2 다결정 실리콘 층 상에 마스크 패턴을 형성하고, 상기 마스크 패턴을 식각 마스크로 상기 제 2 다결정 실리콘 층을 패터닝하여 상기 제 2 절연층의 표면을 노출시키는 제 2 다결정 실리콘 패턴을 형성하되, 상기 제 2 다결정 실리콘 패턴의 측면에 제 1 비정질 영역이 형성되고, 제 1 재결정화 공정을 수행하여 상기 제 1 비정질 영역을 재결정화 하고, 노출된 상기 제 2 절연층을 제거하여 상기 제 1 다결정 실리콘 층의 표면을 노출시키는 제 2 절연 패턴을 형성하고, 노출된 상기 제 1 다결정 실리콘 층을 제거하여 상기 제 1 절연층의 표면을 노출시키는 제 1 다결정 실리콘 패턴을 형성하고, 및 노출된 상기 제 1 절연층을 제거하여 상기 반도체 기판의 표면을 노출시키는 제 1 절연 패턴을 형성하는 것을 포함하는 반도체 소자의 형성 방법이 제안된다.
申请公布号 KR101683072(B1) 申请公布日期 2016.12.21
申请号 KR20100089655 申请日期 2010.09.13
申请人 삼성전자 주식회사 发明人 전경엽;신경섭;윤준호;한제우
分类号 H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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