摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion von Objekten mit einer schwenkbaren, einen Scansensor (2) umfassenden Sensoreinrichtung (1), bei dem: a) der Scansensor (2) Detektionsstrahlen (LB) zur Detektion von Objekten in einem Scanbereich innerhalb einer Scanebene aussendet, wobei die Position der Scanebene durch Verschwenken der Sensoreinrichtung (1) in einem Schwenkbereich verändert wird, wodurch eine Vielzahl von Detektionsebenen entstehen; b) durch die Detektionsstrahlen (LB) in den Detektionsebenen Detektionspunkte von Objekten in der Umgebung der Sensoreinrichtung (1) detektiert werden; c) aus den Detektionspunkten einer jeweiligen Detektionsebene Linien (L1, L2, L3) extrahiert werden; d) die Schnittpunkte der Linien (L1, L2, L3) mit einer oder mehreren vorbestimmten Messebenen (M) als Messpunkte (P) ermittelt werden; e) die Messpunkte (P) in einer jeweiligen Messebene (M) in Blöcke (B1,..., B5) wie folgt einsortiert werden: für einen einzusortierenden Messpunkt (P) wird derjenige Messpunkt (P) ausgewählt, der von den in bereits vorhandenen Blöcken (B1,..., B5) enthaltenen und ein vorgegebenes Distanzkriterium erfüllenden Messpunkten (P) den kleinsten Abstand zum einzusortierenden Messpunkt (P) aufweist, wobei das vorgegebene Distanzkriterium für einen jeweiligen Messpunkt (P) in einem jeweiligen Block (B1,..., B5) erfüllt ist, wenn die Distanz des einzusortierenden Messpunkts (P) zu dem jeweiligen Messpunkt (P) kleiner als ein Distanzmaß ist, welches von der Distanz des jeweiligen Messpunkts (P) zu einem benachbarten Messpunkt (P) des jeweiligen Blocks (B1,..., B5) abhängt; der einzusortierende Messpunkt (P) wird benachbart zu dem ausgewählten Messpunkt (P) in dem Block (B1,..., B5) einsortiert, der den ausgewählten Messpunkt (P) enthält; f) blockweise aus den Messpunkten (P) der in Schritt e) erzeugten Blöcke (B1,..., B5) Linien (L1, L2, L3) extrahiert werden, wodurch Strukturen von Objekten in den Messebenen (M) ermittelt werden.</p> |