发明名称 | 通过斐索干涉术测量球形像散光学区域的方法 | ||
摘要 | 一种测量球形像散光学区域(40)的方法,包含以下步骤:a)通过波前生成装置(10)产生球形像散波前作为测试波前;b)干涉地测量在所述波前生成装置(10)与所述球形像散区域(40)之间的波前差,所述球形像散表面适配于所述波前生成装置(40),使得所述测试波前基本在竖直方向上照射在所述球形像散区域(40)中的任意点,进行多个测量,在所述多个测量中,在围绕像散半径的两个中心球形化和/或围绕球形像散区域(40)的表面法线旋转180°的多个位置处测量所述球形像散区域(40),从而确定相应干涉图位相;以及c)通过数学重建法,建立所述波前生成装置(10)的波前和所述球形像散区域(40)的形状,因此,所述球形像散区域(40)的表面通过使用合适的处理方法来校正,步骤a)至c)被重复直到所述波前差小于限定阈值。 | ||
申请公布号 | CN105917190A | 申请公布日期 | 2016.08.31 |
申请号 | CN201480073553.8 | 申请日期 | 2014.12.19 |
申请人 | 卡尔蔡司SMT有限责任公司 | 发明人 | S.舒尔特;F.希尔克 |
分类号 | G01B11/24(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 陈钘;张邦帅 |
主权项 | 一种测量球形像散光学表面(40)的方法,包含以下步骤:a)通过波前生成装置(10)产生球形像散波前作为测试波前;b)干涉地测量在所述波前生成装置(10)与所述球形像散表面(40)之间的波前差,所述球形像散表面适配于所述波前生成装置,使得所述测试波前在所述球形像散表面(40)的各个点处基本垂直地入射,其中,进行多个测量,在所述多个测量中,在围绕像散半径的两个中心球形化和/或围绕球形像散表面(40)的表面法线旋转180°的多个位置处测量所述球形像散表面(40),其中相应干涉图位相得到确定;以及c)通过数学重建法,建立所述波前生成装置(10)的波前和所述球形像散表面(40)的表面形状,由此,所述球形像散表面(40)的表面通过合适的处理方法来校正,其中,步骤a)至c)被重复直到所述波前差位于限定阈值下为止。 | ||
地址 | 德国上科亨 |