发明名称 |
改性红外探测材料-非晶SiGe薄膜的制备方法 |
摘要 |
改性红外探测材料—非晶SiGe薄膜的制备方法。本发明属于红外热探测材料的制备方法,特别是对非晶SiGe合金薄膜优化、改性的方法。本发明包含以下两个重要步骤,即首先在超高真空状态下采用电子束蒸发镀膜方法制备α-SiGe薄膜,然后利用离子注入方法对α-SiGe薄膜进行改性。本方法可获得具有高电阻温度系数(TCR)的α-SiGe薄膜红外热探测材料,提高生产效率,降低了生产成本,可解决常规技术生长非晶GeSi薄膜时由于光放电,等离子体对已沉积的薄膜会破坏,使材料变坏等不足。 |
申请公布号 |
CN100355089C |
申请公布日期 |
2007.12.12 |
申请号 |
CN03135366.5 |
申请日期 |
2003.07.04 |
申请人 |
云南大学 |
发明人 |
杨宇;王光科;杨瑞东;马铁英;刘焕林;陈刚 |
分类号 |
H01L31/028(2006.01);H01L31/20(2006.01) |
主分类号 |
H01L31/028(2006.01) |
代理机构 |
昆明正原专利代理有限责任公司 |
代理人 |
赵云 |
主权项 |
1、一种改性非晶SiGe薄膜的制备方法,其特征是首先在真空状态下采用电子束蒸发法制备α-SiGe薄膜,然后利用离子束注入方法对α-SiGe薄膜进行改性,注入的元素选取Co、H、B、Sb中的任一种,离子注入剂量控制在1×1015个/cm3~1×1017个/cm3范围。 |
地址 |
650091云南省昆明市翠湖北路2号云南大学材料科学与工程系 |