发明名称 一种MAT辐射杂散的测量方法
摘要 本发明公开了一种MAT辐射杂散的测量方法,该MAT包括RUT和RNUT,其均可工作于第一频段与第二频段,RUT和RNUT的工作频段有多种组合,每一频段对应若干信道,该方法包括如下步骤:步骤1,建立MAT的多个无线链路测试环境;步骤2,在第一频段和第二频段中分别设置多个信道;步骤3,测量RNT和RNUT在每一种工作频段组合下的每一种信道组合的MAT的辐射杂散;步骤4,判断所测每一个辐射杂散是否超出预设值,若均不超出预设值,则测试结束,若有一个超出预设值,则降低MAT发射功率,重复执行步骤3,得到一组新的辐射杂散,若该新的辐射杂散均未超出预设值,则测试结束,若有一个超出预设值,则测试失败。本发明使得测试出的结果更加真实的反应出MAT的抗射频干扰能力。
申请公布号 CN101038314A 申请公布日期 2007.09.19
申请号 CN200710100443.8 申请日期 2007.04.06
申请人 中兴通讯股份有限公司 发明人 禹忠;彭宏利;王曼
分类号 G01R29/08(2006.01);H04B17/00(2006.01) 主分类号 G01R29/08(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种MAT辐射杂散的测量方法,其特征在于,该MAT包括待测无线电终端RUT和非待测无线电终端RNUT,RUT和RNUT均可工作于第一频段与第二频段,RUT和RNUT的工作频段有多种组合,每一频段对应若干信道,该方法包括以下步骤:步骤1,建立MAT的多个无线链路测试环境;步骤2,在第一频段和第二频段中分别设置多个信道;步骤3,测量RNT和RNUT在每一种工作频段组合下的每一种信道组合的MAT的辐射杂散;步骤4,判断所测每一个辐射杂散是否超出预设值,如果均不超出预设值,则测试结束,如果有一个超出预设值,则降低MAT发射功率(功率回退),重复执行步骤3,得到一组新的辐射杂散,若该新的辐射杂散均未超出预设值,则测试结束,如果有一个超出预设值,则测试失败。
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