发光二极管外延片电致发光无损检测方法

摘要

一种发光二极管外延片的检测方法，属检测仪器领域。本发明是在发光二极管外延片的p型层的表面上同时安置正负两个电极，将一个高压恒流源接在正负两极，使发光二极管外延片中的p型层、n型层组成的二极管被击穿导通，使整个电路导通，引发发光二极管外延片的发光层发光，从而达到检测的目的，所述发光层位于p型层和n型层中间，所述负电极固定于p型层表面，正电极可在p型层表面移动。这种测量方法直接、无损、便捷，相对于光致荧光而言还可以得到正向导通电压、反向漏电流等对于LED外延片而言非常重要的电学参数。

主权项

1. 一种发光二极管外延片的检测方法，其特征是在发光二极管外延片的p型层的表面上同时安置正负两个电极，将一个高压恒流源接在正负两极，使发光二极管外延片中的p型层、n型层组成的二极管被击穿导通，使整个电路导通，引发发光二极管外延片的发光层发光，从而达到检测的目的，所述发光层位于p型层和n型层中间，所述负电极固定于p型层表面，正电极可在p型层表面移动。