半导体装置测试系统、测试控制器、测试头、半导体装置测试器的界面区块、用于列出受测试半导装置的方法、及支援半导体装置测试的方法

摘要

本文揭示一半导体装置测试系统和一测试处理器。一温度控制设备被安装到一测试头的一界面区块，及移除从一测试板产生的热量。因此，可以执行具有一高度可靠性的半导体装置的测试。