发明名称 非挥发性半导体记忆装置之制造方法及非挥发性半导体记忆装置
摘要 本发明系使非挥发性半导体记忆装置之性能提高。一种非挥发性半导体记忆装置,其系于同一个矽基板1上具备:分裂闸极型记忆胞M1A,其系具有控制闸极电极CGs以及侧壁记忆体闸极电极MGs;及单闸极型记忆胞M2,其系具有单记忆体闸极电极MGu;其中,第1区域R1上经由控制闸极绝缘膜ICs而形成有控制闸极电极CGs,且第1区域R1上经由电荷储存膜IMs而形成有侧壁记忆体闸极电极MGs,同时,第2区域R2上经由电荷储存膜IMu而形成有单记忆体闸极电极MGu。此时,侧壁记忆体闸极电极MGs与单记忆体闸极电极MGu系于同一个步骤中形成,且控制闸极电极CGs与侧壁记忆体闸极电极MGs系形成为于彼此电绝缘之状态下,彼此相邻地配置。
申请公布号 TWI390679 申请公布日期 2013.03.21
申请号 TW098102090 申请日期 2009.01.20
申请人 瑞萨电子股份有限公司 日本 发明人 木村绅一郎;岛本泰洋;久本大
分类号 H01L21/8247;H01L21/318;H01L27/115 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 日本
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