发明名称 |
光电二极管阵列及其制造方法和放射线检测器 |
摘要 |
光电二极管阵列(1)包括n型硅基板(3)。在n型硅基板(3)的被检测光(L)的入射面的相反面一侧,以阵列状形成有多个光电二极管(4)。在n型硅基板(3)的被检测光(L)的入射面一侧的、未与形成有光电二极管(4)的区域对应的区域上,设置有具有规定高度的间隔层(6)。 |
申请公布号 |
CN100466273C |
申请公布日期 |
2009.03.04 |
申请号 |
CN200480008446.3 |
申请日期 |
2004.03.25 |
申请人 |
浜松光子学株式会社 |
发明人 |
柴山胜己 |
分类号 |
H01L27/146(2006.01);H01L31/10(2006.01);G01T1/20(2006.01) |
主分类号 |
H01L27/146(2006.01) |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 |
代理人 |
龙淳 |
主权项 |
1.一种光电二极管阵列,其特征在于:包括半导体基板,在所述半导体基板中的被检测光的入射面的相反面一侧,以阵列状形成有多个光电二极管,在所述半导体基板的被检测光的所述入射面一侧的、不与形成有所述光电二极管的区域对应的区域上,设置有具有高度的突出部,在所述半导体基板中的被检测光的所述入射面的所述相反面一侧,在与所述入射面一侧的设置有所述突出部的区域对应的区域上,形成有与所述光电二极管电气连接的凸块电极。 |
地址 |
日本国静冈县 |