| 发明名称 | 集成的引线接合器和具有缺陷剔除的三维测量系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种装置，所述装置包括具有引线接合装置(210)、测量装置(215)和剔除装置(220)的引线接合器系统。所述引线接合装置(210)被构造为将引线接合型电互连件附接到电子组件。引线接合在第一半导体装置和第二电子装置之间形成，以形成电子组件的至少一部分。所述测量装置(215)被构造为进行与引线接合相关联的三维测量，并且所述剔除装置(220)被构造为根据所述三维引线接合测量识别应予剔除的电子组件。 | ||
| 申请公布号 | CN105849881A | 申请公布日期 | 2016.08.10 |
| 申请号 | CN201480070290.5 | 申请日期 | 2014.10.24 |
| 申请人 | 飞兆半导体公司 | 发明人 | 达伦·W·凯勒 |
| 分类号 | H01L21/60(2006.01)I;H01L23/544(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/60(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人 | 林彦 |
| 主权项 | 一种包括引线接合器系统的设备，所述引线接合器系统包括：被构造为将引线接合型电互连件附接到电子组件的引线接合装置，其中引线接合在第一半导体装置和第二电子装置之间形成，以形成所述电子组件的至少一部分；被构造为进行与引线接合相关联的三维测量的测量装置；以及被构造为根据所述三维引线接合测量识别应予剔除的电子组件的剔除装置。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||