发明名称 Halbleitereinrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Halbleitereinrichtung
摘要 Eine Halbleitereinrichtung enthält einen Abschlussgraben, der ein Gebiet, in dem eine Vielzahl von Gategräben bereitgestellt ist, umgibt. Ein unteres Endgebiet des p-Typs ist in Kontakt mit einem unteren Ende des Abschlussgrabens; ein äußeres peripheres Gebiet des p-Typs ist in Kontakt mit dem Abschlussgraben von einer äußeren peripheren Seite und liegt an einer Oberfläche der Halbleitereinrichtung außen; eine Vielzahl von Schutzringgebieten eines p-Typs ist auf einer äußeren peripheren Seite des äußeren peripheren Gebiets des p-Typs bereitgestellt und liegt an der Oberfläche außen; und ein äußeres peripheres Gebiet des n-Typs trennt das äußere periphere Gebiet des p-Typs von den Schutzringgebieten und trennt die Schutzringgebiete voneinander.
申请公布号 DE112014006350(T5) 申请公布日期 2016.10.20
申请号 DE20141106350T 申请日期 2014.10.06
申请人 DENSO CORPORATION;TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA 发明人 Takaya, Hidefumi;Saito, Jun;Soeno, Akitaka;Hamada, Kimimori;Mizuno, Shoji;Watanabe, Yukihiko;Aoi, Sachiko
分类号 H01L29/12;H01L29/06;H01L29/78 主分类号 H01L29/12
代理机构 代理人
主权项
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