发明名称 再现记录在超分辨率信息存储介质上的信息的方法和设备
摘要 本发明提供了一种用于通过积极地检测根据超分辨率信息存储介质(SRISM)的反射率而变化的阈域,使用实际上适于再现的适当实际再现功率来再现记录在SRISM中的信息的方法和设备。从SRISM再现信息的方法包括:将光束发射到SRISM上,同时改变激光光束的再现功率,接收被SRISM反射的光束,并从接收的光束检测再现信号电平的变化;基于再现信号电平的变化,计算再现信号电平对再现功率的曲线的梯度改变处的参考再现功率;和基于参考再现功率设置实际再现功率。用于从SRISM再现信息的设备包括光学拾取单元和信号处理单元。该光学拾取单元包括光源和光电检测器,其中光源将具有一定范围的功率的光束发射到SRISM上,光电检测器接收从SRISM反射的光束,并从接收的光束检测再现信号;该信号处理单元根据被光源发射到SRISM上的光束的再现功率的变化来检测再现信号电平的变化,并基于再现信号电平对再现功率的曲线的梯度改变处的参考再现功率设置从光源发射的光束的实际再现功率。
申请公布号 CN100351922C 申请公布日期 2007.11.28
申请号 CN200580000173.2 申请日期 2005.01.28
申请人 三星电子株式会社 发明人 金朱镐;黄仁吾;金铉基;尹斗燮
分类号 G11B7/005(2006.01) 主分类号 G11B7/005(2006.01)
代理机构 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人 韩明星;李云霞
主权项 权利要求书1、一种从包括比激光光束的分辨率极限小的记录标记的超分辨率信息存储介质再现信息的方法,包括:将激光光束发射到所述超分辨率信息存储介质上,同时改变所述激光光束的再现功率,接收从所述超分辨率信息存储介质反射的激光光束,并从接收的激光光束检测再现信号电平的变化;基于所述再现信号电平的变化,计算参考再现功率,在该参考再现功率处,再现信号电平对再现功率的曲线的梯度改变;和基于所述参考再现功率设置实际再现功率,其中,所述超分辨率信息存储介质包括由Ge-Sb-Te制成的辅助记录层。
地址 韩国京畿道水原市