发明名称 Verfahren zur Strahlungskorrektur eines CT-Systems
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Strahlungskorrektur eines CT-Systems (1) mit zwei winkelversetzt zueinander auf einer rotierbaren Gantry angeordneten und gleichzeitig betriebenen Fokus/Detektor-Systemen (FDSA, FDSB), wobei zum Scan eines Objektes (7) die zwei winkelversetzt angeordneten Fokus/Detektor-Systeme (FDSA, FDSB) das Objekt (7) abtasten, indem sie um eine Systemachse (9) des CT-Systems (1) rotieren und aus den gemessenen Schwächungen der Strahlung der Foken (F¶A¶, F¶B¶) eine Vielzahl von Absorptionswerten einzelner Strahlen bestimmt und die gemessenen Werte einer Streustrahlkorrektur unterzogen werden, wobei für die direkten Strahlen S die positiven Differenzen aus den Intensitätswerten I der direkten Strahlen S und den Intensitätswerten I' der 180 DEG entfernten "komplementären"-Strahlen S' kanalweise ermittelt werden und diese positive Differenz DELTA = I - I' als Streustrahlkorrektur vom Intensitätswert I des direkten Strahls S abgezogen werden, um damit die Schwächungswerte zu bestimmen und aus diesen in bekannter Weise CT-Schnittbilder oder CT-Volumendaten zu rekonstruieren.
申请公布号 DE102005048388(A1) 申请公布日期 2007.04.19
申请号 DE200510048388 申请日期 2005.10.10
申请人 SIEMENS AG 发明人 BRUDER, HERBERT;PETERSILKA, MARTIN
分类号 G01N23/06;G03B42/02 主分类号 G01N23/06
代理机构 代理人
主权项
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