晶片组态设定的检测方法

摘要

本发明公开了一种晶片组态设定的检测方法，其主要是在晶片的制作完成后将其安装在一主机板上，首先启动电源，系统进行开机及自我测试；然后载入BIOS程序，其中该BIOS程序包含有组态检测程序；接着利用该组态检测程序对晶片进行组态设定的检测，即先依次输入测试资料；再根据输入的测试资料将晶片组态空间中对应的暂存器启动，使晶片开始运作；在取得晶片作业后所产生的数据后，将其与预期的结果加以比对，从而可在晶片的实际运作之前做最后阶段的组态设定验证，以加快晶片研发及修正的速度。

主权项

1.一种晶片组态设定的检测方法，其特征在于，其主要包含有下列步骤：提供一包含有一待检测晶片的主机板；提供一包含有一组态检测程序的BIOS程序；启动电源；进行开机自我测试；载入所述BIOS程序；及进行该晶片在组态空间中的组态设定检测；其中，所述BIOS程序所包含的组态检测程序包含有下列步骤：提供一测试资料；提供一对应于该测试资料的预期结果资料；输入该测试资料；依该测试资料将该晶片组态空间中一对应的暂存器启动；取得该晶片作业后所产生的结果资料；及将该取得的结果资料与预期结果资料作比对。