| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ausrichten eines mindestens zwei erste Ausrichtungsmarkierungen (8) aufweisenden ersten Substrats (7) mit einem mindestens zwei zweite Ausrichtungsmarkierungen (8') aufweisenden zweiten Substrat (7'), wobei – durch eine erste Zuordnung die ersten Ausrichtungsmarkierungen (8) mindestens zwei ersten charakteristischen Ausrichtungsmerkmalen (9) des ersten Substrats (7) in einer X-Richtung und in einer Y-Richtung zugeordnet werden, – durch eine zweite Zuordnung die zweiten Ausrichtungsmarkierungen (8') mindestens zwei zweiten charakteristischen Ausrichtungsmerkmalen (9') des zweiten Substrats (7') in einer X-Richtung und in einer Y-Richtung zugeordnet werden und – durch eine Ausrichtung die ersten (8) und zweiten Ausrichtungsmarkierungen (8') mittels der ersten und zweiten charakteristischen Ausrichtungsmerkmale (9, 9') zueinander in X- und Y-Richtung ausgerichtet werden. Weiterhin betrifft die vorliegende Erfindung eine korrespondierende Vorrichtung. |
