| 发明名称 | 转接板及老化测试板 | ||
| 摘要 | 本实用新型提供一种转接板，所述转接板包括板体及设置于所述板体上的信号探针、元件接口装置和电子元件组，所述信号探针通过信号跳线与所述元件接口装置连接，所述元件接口装置通过元件跳线与所述电子元件组中的部分或全部电子元件连接。本实用新型还提供一种老化测试板，所述老化测试板包括主板以及所述转接板，所述转接板与所述主板连接。本实用新型提供一种转接板及老化测试板，所述转接板的信号探针通过信号跳线来实现对系统信号的选择，并且所述元件接口装置通过元件跳线来实现对电子元件的选择，满足不同芯片之间的测试需要，使电路调整更简单，提高了老化测试板的适应性，达到不更换转接板的目的，降低更换过程中带来的风险。 | ||
| 申请公布号 | CN205670184U | 申请公布日期 | 2016.11.02 |
| 申请号 | CN201620541928.5 | 申请日期 | 2016.06.02 |
| 申请人 | 中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 | 发明人 | 邵玲玲 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R1/02(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/26(2014.01)I |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人 | 屈蘅;李时云 |
| 主权项 | 一种转接板，其特征在于，所述转接板包括板体及设置于所述板体上的信号探针、元件接口装置和电子元件组，所述信号探针通过信号跳线与所述元件接口装置连接，所述元件接口装置通过元件跳线与所述电子元件组中的部分或全部电子元件连接。 | ||
| 地址 | 300385 天津市西青区中国天津市西青经济开发区兴华道19号 | ||