发明名称 |
电阻测量方法 |
摘要 |
一种电阻测量方法,包括如下步骤:测量设定条件下待测导体的热流量,导体热流量的计算公式为式(1),其中<img file="200610060316.5_AB_0.GIF" wi="26" he="31" />为导体的热流量,ΔT为导体的温度差,K为导体的导热系数,S为导体的截面积,L为导体的长度,V为导体的体积,导体的导热系数K及温度差ΔT满足如下公式:见式(2),其中ρ为导体的电阻系数;及计算待测导体的电阻,所述待测导体的电阻等于所述导体热流量的倒数。本发明提供了一种电阻测量方法,只需获得设定条件下导体的热流量,即可精确计算出导体的电阻。 |
申请公布号 |
CN101055300A |
申请公布日期 |
2007.10.17 |
申请号 |
CN200610060316.5 |
申请日期 |
2006.04.14 |
申请人 |
鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
发明人 |
林有旭 |
分类号 |
G01R27/02(2006.01) |
主分类号 |
G01R27/02(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种电阻测量方法,其包括如下步骤:测量设定条件下待测导体的热流量,导体热流量的计算公式为:<maths num="001"><![CDATA[ <math><mrow><mfrac><mover><mi>Q</mi><mo>·</mo></mover><mrow><mo>-</mo><mi>ΔT</mi></mrow></mfrac><mo>=</mo><munder><mo>∫</mo><mi>V</mi></munder><mi>K</mi><mfrac><mi>S</mi><mi>L</mi></mfrac><mo>,</mo></mrow></math>]]></maths>其中<img file="A2006100603160002C2.GIF" wi="35" he="58" />为导体的热流量,ΔT为导体的温度差,K为导体的导热系数,S为导体的截面积,L为导体的长度,V为导体的体积,导体的导热系数K及温度差ΔT满足公式:<maths num="002"><![CDATA[ <math><mrow><mi>K</mi><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><mi>ρ</mi></mfrac><mo>,</mo></mrow></math>]]></maths>ΔT=-1,其中ρ为导体的电阻系数;及计算待测导体的电阻,所述待测导体的电阻等于所述导体热流量的倒数。 |
地址 |
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |