发明名称 电阻测量方法
摘要 一种电阻测量方法,包括如下步骤:测量设定条件下待测导体的热流量,导体热流量的计算公式为式(1),其中<img file="200610060316.5_AB_0.GIF" wi="26" he="31" />为导体的热流量,ΔT为导体的温度差,K为导体的导热系数,S为导体的截面积,L为导体的长度,V为导体的体积,导体的导热系数K及温度差ΔT满足如下公式:见式(2),其中ρ为导体的电阻系数;及计算待测导体的电阻,所述待测导体的电阻等于所述导体热流量的倒数。本发明提供了一种电阻测量方法,只需获得设定条件下导体的热流量,即可精确计算出导体的电阻。
申请公布号 CN101055300A 申请公布日期 2007.10.17
申请号 CN200610060316.5 申请日期 2006.04.14
申请人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 林有旭
分类号 G01R27/02(2006.01) 主分类号 G01R27/02(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种电阻测量方法,其包括如下步骤:测量设定条件下待测导体的热流量,导体热流量的计算公式为:<maths num="001"><![CDATA[ <math><mrow><mfrac><mover><mi>Q</mi><mo>&CenterDot;</mo></mover><mrow><mo>-</mo><mi>&Delta;T</mi></mrow></mfrac><mo>=</mo><munder><mo>&Integral;</mo><mi>V</mi></munder><mi>K</mi><mfrac><mi>S</mi><mi>L</mi></mfrac><mo>,</mo></mrow></math>]]></maths>其中<img file="A2006100603160002C2.GIF" wi="35" he="58" />为导体的热流量,ΔT为导体的温度差,K为导体的导热系数,S为导体的截面积,L为导体的长度,V为导体的体积,导体的导热系数K及温度差ΔT满足公式:<maths num="002"><![CDATA[ <math><mrow><mi>K</mi><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><mi>&rho;</mi></mfrac><mo>,</mo></mrow></math>]]></maths>ΔT=-1,其中ρ为导体的电阻系数;及计算待测导体的电阻,所述待测导体的电阻等于所述导体热流量的倒数。
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