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发明名称
Method and apparatus for determining a process model for integrated circuit fabrication
摘要
申请公布号
EP1862857(A3)
申请公布日期
2007.12.12
申请号
EP20070252184
申请日期
2007.05.29
申请人
SYNOPSYS, INC.
发明人
HUANG, JENSHENG;KUO, CHUN-CHIEH;MELVI III, LAWRENCE S.
分类号
G03F7/20
主分类号
G03F7/20
代理机构
代理人
主权项
地址
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