发明名称 基于磁共振声辐射力成像的组织位移测量方法和系统
摘要 一种基于磁共振声辐射力成像的组织位移测量方法和系统,包括如下步骤:获取利用二维自旋回波序列同时施加聚焦超声所采集得到的图像;将图像中对像组织分为感兴趣区域和参考区域;分离出所述参考区域的组织相位图;对所述参考区域的组织相位图进行多项式模型拟合,求得多项式系数;利用所述多项式系数,进行内插,计算得所述感兴趣区域中组织的基线相位图;从采集图像中获取所述感兴趣区域的组织相位图;获得所述感兴趣区域组织的相位差;利用所述感兴趣区域组织的相位差得到所述感兴趣区域组织的位移。本发明对组织运动不敏感,能减小涡流及场不均匀引起误差,只需采集一次图像就可测量相位差,从而获得组织位移变化,加快了组织位移测量速度。
申请公布号 CN105796101A 申请公布日期 2016.07.27
申请号 CN201410843339.8 申请日期 2014.12.29
申请人 中国科学院深圳先进技术研究院 发明人 郑海荣;刘新;帖长军;邹超;文剑洪;钟耀祖
分类号 A61B5/055(2006.01)I;A61B8/08(2006.01)I 主分类号 A61B5/055(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 吴平
主权项 一种基于磁共振声辐射力成像的组织位移测量方法,其特征在于,包括如下步骤:获取利用二维自旋回波序列同时施加聚焦超声所采集得到的图像;将所述图像中包含对像组织的图像区域分为感兴趣区域和参考区域;分离出所述参考区域的组织相位图;对所述参考区域的组织相位图进行多项式模型拟合,求得多项式系数;利用所述多项式系数,进行内插,计算得到所述感兴趣区域中组织的基线相位图;从所述图像中获取所述感兴趣区域的组织相位图;根据所述感兴趣区域的组织相位图和所述基线相位图,获得所述感兴趣区域组织的相位差;利用所述感兴趣区域组织的相位差,得到所述感兴趣区域组织的位移。
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