发明名称 Arraysubstrat, Berührungsanzeigevorrichtung und Testverfahren derselben
摘要 Ein Arraysubstrat, eine Berührungsanzeigevorrichtung und ein Testverfahren derselben sind vorgesehen. Das Arraysubstrat umfasst: ein Substrat und eine Gemeinsame-Elektrode-Struktur und eine leitfähige Struktur zum Testen, die auf einer gleichen Seite des Substrats angeordnet sind, wobei die Gemeinsame-Elektrode-Struktur von der leitfähigen Struktur zum Testen isoliert ist und es einen Überlappungsbereich zwischen einem Vorsprung der Gemeinsame-Elektrode-Struktur und einem Vorsprung der leitfähigen Struktur zum Testen in einer zu dem Substrat senkrechten Richtung gibt und ein Laserschmelzen an dem Überlappungsbereich vorgenommen werden kann, um die Gemeinsame-Elektrode-Struktur mit der leitfähigen Struktur zum Testen elektrisch zu verbinden. Falls ein Potenzial einer gemeinsamen Elektrode getestet werden muss, kann das Laserschmelzen an dem Überlappungsbereich vorgenommen werden, um die Gemeinsame-Elektrode-Struktur und die leitfähige Struktur zum Testen elektrisch miteinander zu verbinden, und eine Sonde wird auf die leitfähige Struktur zum Testen platziert. Daher ist die Schwierigkeit des Testens des Potenzials der gemeinsamen Elektrode reduziert und es ist unwahrscheinlich, dass die Sonde andere Komponenten rund um die Gemeinsame-Elektrode-Struktur kontaktiert, wodurch die Genauigkeit eines Testergebnisses verbessert ist.
申请公布号 DE102016205134(A1) 申请公布日期 2016.11.10
申请号 DE201610205134 申请日期 2016.03.29
申请人 Shanghai AVIC OPTO Electronics Co., Ltd.;TIANMA MICRO-ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 Jin, Huijun
分类号 G06F3/041;G02F1/1343;G02F1/1362;G06F3/044 主分类号 G06F3/041
代理机构 代理人
主权项
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