ATOMIC FORCE MICROSCOPE MEASURING DEVICE,申请号EP20150716422-传众专利搜索

发明名称	ATOMIC FORCE MICROSCOPE MEASURING DEVICE
摘要	The invention relates to a measuring device and a method for determining mass and/or mechanical properties of a biological system.
申请公布号	EP3108283(A1)	申请公布日期	2016.12.28
申请号	EP20150716422	申请日期	2015.02.17
申请人	Universität Basel;ETH Zürich	发明人	MARTINEZ-MARTIN, David;MUELLER, Daniel J.;MARTIN, Sascha;GERBER, Christoph
分类号	G02B21/00;G01N21/64;G01Q30/02;G02B21/16	主分类号	G02B21/00
代理机构		代理人
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