面向集成电路互连电容提取的线网高斯面采样方法及系统

摘要

一种面向集成电路互连电容提取的线网高斯面采样方法及系统，针对包含超过一块导体的线网，实现在包围该线网的高斯面上进行随机行走采样的过程，该方法并不真正在几何上构造线网高斯面，而是在组成线网各个导体块的高斯面的合集上进行随机采样，然后通过拒绝采样（rejection sampling）达到直接在线网高斯面上采样的效果。相比于通过几何运算求出所有块高斯面的包络、从而得到线网高斯面的方法，本发明运算简单、效率高，且能适应基于方差约减的快速随机行走方法。避免了通过复杂的三维几何运算求所有块高斯面的包络，效率高且易于实现。

主权项

一种面向集成电路互连电容提取的线网高斯面采样方法，应用于计算装置中，其特征在于，该方法包括：选择步骤一，生成一个0～1之间的均匀分布随机数R₁，根据随机数R₁及积累面积向量M选择块高斯面G_k，所述块高斯面G_k为导体块B_k的高斯面，所述导体块B_k为线网的一个导体块，所述线网包括N_b个导体块B_i，所述线网对应的三维形体是所述导体块B_i的并集，所述线网的每个导体块B_i对应一个块高斯面G_i，其中i＝1，2，...，N_b,N_b表示所述线网所包括的导体块的数量；选择步骤二，在块高斯面G_k上按均匀分布随机选取一点r；检查步骤，依次检查点r与其他块高斯面G_i的关系以丢弃了没有落在线网高斯面上的采样点，并获得n_c的取值，其中i＝1，2，...，N_b，i≠k，n_c表示的是若r点落在线网高斯面上，则r点同时在n_c个块高斯面上；生成步骤一，生成一个0～1之间的均匀分布随机数R₂；判断步骤一，判断R₂是否大于1/n_c，当R₂大于1/n_c，返回执行选择步骤一；生成步骤二，当R₂不大于1/n_c时，生成一个0～1之间的均匀分布随机数R₃；判断步骤二，判断R₃是否大于p(r)/U，所述U为预先设置的一个常数值，当R₃大于p(r)/U，返回执行选择步骤一；获取步骤，当R₃不大于p(r)/U，得到点r是所述线网的高斯面上的有效采样点，其中p(r)为所述线网的高斯面上的采样概率密度函数。