| 发明名称 | 集成电路的漏电测试 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种集成电路的漏电测试，其提供的是一种用于测试集成电路的受测装置(DUT)的漏电流的测试配置，其包括电连接至该DUT的对数转换器及电连接至该对数转换器的伏特计。 | ||
| 申请公布号 | CN105974296A | 申请公布日期 | 2016.09.28 |
| 申请号 | CN201610140288.1 | 申请日期 | 2016.03.11 |
| 申请人 | 格罗方德半导体公司 | 发明人 | R·P·米卡洛 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人 | 程伟;王锦阳 |
| 主权项 | 一种用于测试集成电路的受测装置(DUT)的漏电流的测试配置，其包含：对数转换器，其电连接至该DUT；以及伏特计，其电连接至该对数转换器。 | ||
| 地址 | 英属开曼群岛大开曼岛 | ||