发明名称 METHOD FOR THE DETERMINATION OF THE MASS THICKNESS AND THE COMPOSITION OF A ZONE OF AN OBJECT USING AN ELECTRON BEAM AND MEASUREMENTS OF X-RAY INTENSITIES
摘要 Le procédé permet l'étude d'une zone (Z1) d'un objet (2), ladite zone (Z1) présentant une épaisseur massique et comportant au moins un élément chimique. Le procédé d'étude comporte : - une étape d'exposition (E1) d'une partie de la zone (Z1) de l'objet (2) à un faisceau d'électrons (1), - une étape d'identification (E2) de chaque élément chimique présent dans ladite zone (Z1) grâce à l'étape d'exposition (E1), - une étape de mesure (E3), pour chaque élément chimique identifié, d'une intensité correspondante d'un rayonnement X émergent de l'objet (2) du fait de ladite étape d'exposition (E1), - une étape de détermination (E4) d'une valeur de ladite épaisseur massique fonction de chaque étape de mesure (E3), - une étape de détermination (E5) d'une valeur de la concentration de chaque élément chimique identifié utilisant ladite valeur de l'épaisseur massique déterminée - un cycle itératif d'étapes de correction (E7) considérant un terme de correction de l'angle d'incidence, un terme de correction du numéro atomique et une correction d'épaisseur massique.
申请公布号 EP3032244(A1) 申请公布日期 2016.06.15
申请号 EP20150198528 申请日期 2015.12.08
申请人 COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIESALTERNATIVES 发明人 ROBIN, ERIC
分类号 G01N23/225 主分类号 G01N23/225
代理机构 代理人
主权项
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