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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur lichtblattmikroskopischen Untersuchung einer Probe (1), bei dem mehrere Beleuchtungswellenlängen ausgewählt werden, aus denen Beleuchtungslicht für die Probe (1) zusammengesetzt wird. Für eine mittlere Wellenlänge wird die Modulationstiefe eines phasenselektiven Elements auf π festgelegt. Dabei wird dem phasenselektiven Element eine vorgegebene Phasenverteilung und einer Blende (24) in der Blendenebene eine vorgegebene Blendenstruktur aufgeprägt, die es ermöglicht, das Beleuchtungslicht aus mehreren Beleuchtungswellenlängen zusammenzusetzen und so die Probe (1) mit einem aus mehreren Farben zusammengesetzten Lichtblatt zu beleuchten. Dazu wird eine Vorzugswellenlänge ausgewählt und in der Fokusebene des Beleuchtungsobjektivs (10) für ein Lichtblatt vorgegebener Form dessen elektrisches Feld mit Licht der Vorzugswellenlänge bestimmt. Daraus wird die vorzugebende Phasenverteilung berechnet. Das phasenselektive Element wird mit Beleuchtungslicht beleuchtet und das Beleuchtungslicht durch das phasenselektive Element strukturiert. Das strukturierte Beleuchtungslicht wird in eine Blendenebene abgebildet und die nullten Ordnungen des mehrfarbigen, strukturierten Lichts werden ausgeblendet, so dass ein strukturiertes Lichtblatt in einer Fokusebene eines nachgeordneten Beleuchtungsobjektivs (10) geformt wird, mit einer Lichtblattebene, die senkrecht zur Fokusebene des Beleuchtungsobjektivs (10) liegt. Die Probe (1) wird mit dem strukturierten Lichtblatt in der Lichtblattebene beleuchtet und von der Probe abgestrahltes Licht in einer Detektionsrichtung detektiert, welche mit der Lichtblattebene einen von Null verschiedenen Winkel einschließt. |
