发明名称 一次编程存储器的制造方法
摘要 本发明公开了一种一次编程存储器的制造方法。本发明的一次编程存储器的制造方法,主要用于半导体制造工艺的优化,提高半导体的芯片集成度。其主要是在硅基板上刻出槽后,形成电容介质膜,再以多晶硅填满沟槽,在硅基板中形成立体的电容。减少了占用的硅表面积,提高芯片的集成度。
申请公布号 CN1787207A 申请公布日期 2006.06.14
申请号 CN200410089233.X 申请日期 2004.12.08
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 燕健硕
分类号 H01L21/8247(2006.01) 主分类号 H01L21/8247(2006.01)
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人 丁纪铁
主权项 1、一种一次编程存储器的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步,在硅基板内挖出沟槽;第二步,在沟槽内注入N井或P井;第三步,注入一次编程存储器晶体管的源和漏;第四步,成长电容介质膜;第五步,沉积多晶硅,将整个槽填满;第六步,抛光硅基板表面,去除多余的多晶硅;第七步,成长晶体管门多晶硅,并和槽内的多晶硅接触形成电学导通。
地址 201206上海市浦东川桥路1188号