发明名称 | 一次编程存储器的制造方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种一次编程存储器的制造方法。本发明的一次编程存储器的制造方法,主要用于半导体制造工艺的优化,提高半导体的芯片集成度。其主要是在硅基板上刻出槽后,形成电容介质膜,再以多晶硅填满沟槽,在硅基板中形成立体的电容。减少了占用的硅表面积,提高芯片的集成度。 | ||
申请公布号 | CN1787207A | 申请公布日期 | 2006.06.14 |
申请号 | CN200410089233.X | 申请日期 | 2004.12.08 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 燕健硕 |
分类号 | H01L21/8247(2006.01) | 主分类号 | H01L21/8247(2006.01) |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 丁纪铁 |
主权项 | 1、一种一次编程存储器的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步,在硅基板内挖出沟槽;第二步,在沟槽内注入N井或P井;第三步,注入一次编程存储器晶体管的源和漏;第四步,成长电容介质膜;第五步,沉积多晶硅,将整个槽填满;第六步,抛光硅基板表面,去除多余的多晶硅;第七步,成长晶体管门多晶硅,并和槽内的多晶硅接触形成电学导通。 | ||
地址 | 201206上海市浦东川桥路1188号 |