发明名称 半导体器件的制造方法
摘要 提供了一种执行激光辐照的方法作为使半导体膜结晶的方法。但若激光被辐照到半导体膜,则半导体膜同时被熔化并局部膨胀。衬底与半导体膜之间的温度梯度是陡峭的,在半导体膜中可能出现畸变。这样,在某些情况下,得到的结晶半导体膜的薄膜质量就会降低。利用本发明,借助于在用激光执行半导体膜的晶化之后,用热处理工艺对半导体膜进行加热,降低了半导体膜的畸变。比之激光辐照造成的局部加热,此热处理工艺在整个衬底和半导体膜上进行。因此,有可能降低形成在半导体膜中的畸变,从而提高半导体膜的物理性质。
申请公布号 CN100592481C 申请公布日期 2010.02.24
申请号 CN200710006745.9 申请日期 2002.02.22
申请人 株式会社半导体能源研究所 发明人 山崎舜平;三津木亨;高野圭惠
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I;H01L21/268(2006.01)I;H01L21/324(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 李静岚;梁 永
主权项 1.一种制造半导体器件的方法,包括下列步骤:在绝缘表面上形成包含非晶硅的半导体膜;通过用激光辐射所述半导体膜而使所述半导体膜结晶;将该结晶的半导体膜图形化为至少一个小岛形状的半导体层;通过在等于或大于500℃的温度下执行热处理来减少小岛形状的半导体层中的畸变,其中所述畸变是由所述激光的辐射引起的;在热处理之后,在小岛形状的半导体层上形成栅绝缘膜;以及在栅绝缘膜上形成栅电极。
地址 日本神奈川县厚木市