发明名称 一种化学机械研磨方法及装置
摘要 本申请公开了一种化学机械研磨方法及装置,该方法和装置通过设置与研磨平台相连的抛光速率检测系统,实时监测晶片的当前抛光速率并与设定的目标抛光速率比较,根据比较结果向排气系统发送相应信号反馈,控制排气系统增大或减小排气管道内的气体压强,改变当前的抛光速率直到与目标抛光速率一致,从而保持化学机械研磨过程中抛光速率的稳定性。
申请公布号 CN103722486B 申请公布日期 2016.10.05
申请号 CN201210384562.1 申请日期 2012.10.11
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 唐强;李佩;汤露奇
分类号 B24B37/04(2012.01)I;B24B37/005(2012.01)I 主分类号 B24B37/04(2012.01)I
代理机构 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人 牛峥;王丽琴
主权项 一种化学机械研磨方法,提供晶片进行化学机械研磨,设定目标抛光速率,该方法还包括:在所述化学机械研磨过程中,实时监测当前抛光速率,将获得的当前抛光速率与所述目标抛光速率相比较,如果当前抛光速率大于目标抛光速率,则增大排气管道中的气体压强;如果当前抛光速率小于目标抛光速率,则减小排气管道中的气体压强。
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