发明名称 |
一种化学机械研磨方法及装置 |
摘要 |
本申请公开了一种化学机械研磨方法及装置,该方法和装置通过设置与研磨平台相连的抛光速率检测系统,实时监测晶片的当前抛光速率并与设定的目标抛光速率比较,根据比较结果向排气系统发送相应信号反馈,控制排气系统增大或减小排气管道内的气体压强,改变当前的抛光速率直到与目标抛光速率一致,从而保持化学机械研磨过程中抛光速率的稳定性。 |
申请公布号 |
CN103722486B |
申请公布日期 |
2016.10.05 |
申请号 |
CN201210384562.1 |
申请日期 |
2012.10.11 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
唐强;李佩;汤露奇 |
分类号 |
B24B37/04(2012.01)I;B24B37/005(2012.01)I |
主分类号 |
B24B37/04(2012.01)I |
代理机构 |
北京德琦知识产权代理有限公司 11018 |
代理人 |
牛峥;王丽琴 |
主权项 |
一种化学机械研磨方法,提供晶片进行化学机械研磨,设定目标抛光速率,该方法还包括:在所述化学机械研磨过程中,实时监测当前抛光速率,将获得的当前抛光速率与所述目标抛光速率相比较,如果当前抛光速率大于目标抛光速率,则增大排气管道中的气体压强;如果当前抛光速率小于目标抛光速率,则减小排气管道中的气体压强。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |