发明名称 |
集積回路をテストするための方法 |
摘要 |
集積回路が開示される。集積回路は、入力パッドおよび出力パッドと、第1の回路を有する第1の集積回路部と、第1の回路とは異なる第2の回路を有する第2の集積回路部とを含む。第1の集積回路部は、入力パッドからの入力テスト信号を、第2の集積回路部に提供し、第2の集積回路部からの出力テスト信号を、出力パッドに提供するように構成され、出力テスト信号は、入力テスト信号に応答して、第2の集積回路部によって生成される。 |
申请公布号 |
JP2016536584(A) |
申请公布日期 |
2016.11.24 |
申请号 |
JP20160526790 |
申请日期 |
2014.10.28 |
申请人 |
クゥアルコム・インコーポレイテッドQUALCOMM INCORPORATED |
发明人 |
ボーゲラ、サガー;シンシア、デイジー;スリニバサン、スリカンス |
分类号 |
G01R31/28;H01L21/822;H01L27/04 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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