发明名称 集積回路をテストするための方法
摘要 集積回路が開示される。集積回路は、入力パッドおよび出力パッドと、第1の回路を有する第1の集積回路部と、第1の回路とは異なる第2の回路を有する第2の集積回路部とを含む。第1の集積回路部は、入力パッドからの入力テスト信号を、第2の集積回路部に提供し、第2の集積回路部からの出力テスト信号を、出力パッドに提供するように構成され、出力テスト信号は、入力テスト信号に応答して、第2の集積回路部によって生成される。
申请公布号 JP2016536584(A) 申请公布日期 2016.11.24
申请号 JP20160526790 申请日期 2014.10.28
申请人 クゥアルコム・インコーポレイテッドQUALCOMM INCORPORATED 发明人 ボーゲラ、サガー;シンシア、デイジー;スリニバサン、スリカンス
分类号 G01R31/28;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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