| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verbesserung des Dynamikbereichs einer Vorrichtung zum Detektieren von Licht, vorzugsweise zur Anwendung in einem Mikroskop, mit mindestens zwei Detektionsbereichen (8, 9), wobei die Detektionsbereiche (8, 9) jeweils aus einer Anordnung (Array) (8, 9) aus mehreren Single-Photon-Avalanche-Dioden (SPAD) gebildet werden und wobei die Detektionsbereiche (8, 9) jeweils zumindest einen Signal-Ausgang (10, 11) aufweisen, wobei für jeden der Detektionsbereiche (8, 9) eine Kennkurve (12, 13) ermittelt wird und wobei die Kennkurven (12, 13) zum Erhalt einer Korrekturkurve (15) und/oder eines Korrekturfaktors (17) miteinander kombiniert und/oder verrechnet werden. Des Weiteren betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Detektieren von Licht, insbesondere zur Anwendung in einem Mikroskop. Ferner betrifft die Erfindung ein entsprechendes Mikroskop. |
